Анализ почвенных условий

Почвенные условия (характер, гранулометрический состав почв и т.п.) определяются по специальной литературе, либо уже существующим данным для определенной местности. Если же конкретные данные для конкретной территории отсутствуют, то почвенные условия определяются методом анализа, на основе данных анализа они и характеризуются.

Для проведения анализа необходимо взять пробы грунта и составить разрезы. На разрезе указывают типы пород, их литологический состав и глубину залегания, изыскания проводят на глубине 0-5м от поверхности земли (в зависимости от назначения анализа, характера территории). Составляется литологическая карта (или берется существующая). Эта карта позволяет проанализировать территорию с точки зрения пригодности или непригодности ее для возведения того или иного здания или сооружения.

Условно почвогрунты исследуемой территории отнесены ко второй группе. Для почвогрунтов этой группы необходимо произвести замену почвы в посадочной яме на 50%, а также необходимо наличие не менее 200 мм плодородной почвы в местах размещения плоскостных сооружений, таких как газоны и цветники.

Состояние и перспективы развития Москвы
Состояние и перспективы развития по округам ЦАО. Центральный округ столицы по количеству возводимого жилья является одним из аутсайдеров. До 2020 года здесь построят всего 3,3 млн. кв. м. жилых площадей. Для сравнения - на западе столицы будет возведено порядка 12 млн. кв. м. Но что касается престижности и ...

Сбор нагрузок на монолитную плиту
№ Вид нагрузки Нормат. нагрузка кН/м2 gf Расчетн. нагрузка кН/м2 1 Постоянная нагрузка _ g Керам. плитка d=0,013м, r=18кн/м3 Цем. - песч. р-р d=0,03м, r=18кн/м3 Ж/б плита d=0,10м, r=25кн/м3 0,24 0,54 2,5 1,2 1,3 1,1 0,3 0,71 2,75 Итого 3,28 - 3,76 ...

Строительство дорожной одежды
Для определения объема дорожно-строительных материалов разбиваем дорогу по оси. 1 тип Потребный объем сыпучих материалов Q, м3, для устройства конструктивного слоя дорожной одежды определяем по формуле: , где B – ширина слоя (или его средняя линия, равная полусумме оснований) м; h - толщина слоя, м; Ky ...